Dirk Steiner, vodja poslovnega razvoja pri podjetju Yxlon, se z industrijsko računalniško tomografijo intenzivno ukvarja od leta 2004 ter je skeniral in analiziral več kot 1.000 podatkovnih nizov. Tukaj si lahko ogledate posnetek spletnega seminarja Today's Metrology Live podjetja GIE Media in slišite, kako se zahtevne meroslovne naloge zanesljivo rešujejo z računalniško tomografijo. Podjetje Yxlon je bilo prisotno skupaj s proizvajalci drugih tehnologij, povezanih z meroslovjem, da bi zagotovilo celovit pregled rešitev.

Dirk je govoril o najnovejših trendih v meroslovju z uporabo industrijske računalniške tomografije (CT) in kako so podatki ključni za pridobivanje informacij, ki jih proizvajalci potrebujejo za povečanje učinkovitosti in zmanjšanje stroškov. Za proizvajalce je najpomembnejša visoka kakovost njihovih izdelkov. Na "okrogli mizi" je pet udeležencev razpravljalo o tem, kako lahko njihove rešitve pomagajo proizvajalcem to doseči. Merjenje in analiziranje notranjih struktur pa je mogoče le s CT.

Na eno od zastavljenih vprašanj je Dirk odgovoril: "CT je netaktilna metoda, zato v procesu ne spreminjamo geometrije. Vidimo lahko notranje strukture in z današnjim velikim trendom dodajalne proizvodnje ni več omejitev glede tega, kaj lahko oblikujete in natisnete. S CT lahko pogledamo v notranjost in izmerimo stvari, ki so podrezane ali celo skrite znotraj dela. Poleg tega dobimo tudi podatke iz napak, notranjih napak, ki same po sebi nimajo nobene zveze z meroslovjem. Tako z eno potezo ubijemo dve muhi na en mah."