Comet Yxlon GmbH

• Serija: serija FF
• Industrija: avtomobilska, elektronika, letalska in vesoljska industrija, znanost in raziskave, livarstvo, polprevodniki, dodatna proizvodnja
• Velikost napake: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Velikost dela: majhna velikost, srednja velikost, velika velikost
• Način delovanja: 3D, 2D/3D, meroslovje

• Konfiguracija z eno ali dvema cevema za največjo vsestranskost pri laboratorijskih aplikacijah mikro-CT
• Preklapljanje med 225 kV mikroostrimi in 190 kV nanoostrimi cevmi v nekaj sekundah s pritiskom na en sam gumb
• Natančni rezultati zaradi manipulacije na osnovi granita in klimatizacije
• Prilagodljivost uporabe zaradi različnih trajektorij CT in razširitev FoV prek programske platforme Geminy
• Izbirna meroslovna različica z MPESD = 5,9 µm + L/75 [L v mm]
• Na voljo kot različica FF35 CT SEMI v skladu s tržnimi standardi za polprevodnike

Prilagodljiv pregled zelo majhnih do srednje velikih delov
Comet Yxlon FF35 CT, FF35 CT Metrology in FF35 CT SEMI pokrivajo izjemen obseg uporabe. Zmogljivosti vključujejo izboljšano testiranje materialov v oddelku za raziskave in razvoj, optimizacijo nadzora procesov in pregledovanje majhnih serij ter različne znanstvene aplikacije. S postavitvijo dveh rentgenskih cevi lahko sistem CT visoke ločljivosti znatno razširi možnosti zagotavljanja kakovosti in raziskav v avtomobilski industriji, elektroniki, letalstvu in znanosti o materialih.

• Elektronske komponente, vključno s komponentami SMD
• Izdelki, ki vključujejo nove materiale ali nove proizvodne metode, npr. aditivno izdelane komponente, z vlakni ojačana plastika
• Baterijske celice in moduli
• Brizgane plastike
• Mikrosistemi (MEMS, MOEMS)
• Medicinski predmeti, npr. kanile
• Odlitki iz lahkih zlitin
• Geološki, paleontološki in biološki vzorci

• Zagotavljanje kakovosti, analiza materialov in raziskave
• Analizo napak in struktur
• Preverjanje sestavljanja
• Pregled majhnih serijskih izdelkov
• Nadzor procesov
• Digitalizacija
• Segmentacija